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高周波ノイズ障害 INS試験 高電圧の瞬間の干渉

高周波ノイズ障害 INS試験 高電圧の瞬間の干渉

詳細情報
ハイライト:

高電圧干渉 INS試験

,

高周波騒音障害 INS試験

,

瞬時の高電圧干渉 INS試験

製品説明

高周波騒音障害 INS試験
試験導入
高周波騒音障害 INS試験は,EMCフィールド試験に属します.その基本試験目的は,国際標準 IEC 61000-4-4 標準と同じである (電気速瞬パルスグループ試験)このテスト能力は主に日本と一部のアジア諸国に関連する顧客にサービスを提供しています

高周波騒音障害 INS試験

この試験は主に回路内のスイッチ装置,例えばリレーなどをシミュレートします.それらをオンまたはオフにすると,回路内の電流は急速に変化します.電路にインダクティブコンポーネントがある場合このタイプの干渉は,幅広いスペクトル (2GHzまで) を含んでおり,結合され,反射され,電源ケーブルと印刷回路板の配線を通してICによって共鳴し強化される電子製品の使用時の安定性を確保するために,それらの電子製品に対して反干渉試験 (EMS) を行う必要があります.高周波パルス発電機を使用する試験サンプルに複数のグループパルス信号が直接適用され,試料の反干渉能力は,試料の性能の変化に基づいて評価されます.試験後および試験中に.
試験用対象
中央制御パネルなどの電子機器
共同基準
NECA TR-28:長方波高周波ノイズ試験装置の試験指標

JEM TR-177: 電動機械および装置のための長方波高周波ノイズテスト装置の試験指標

JEC 0103_2005:低電圧制御回路試験規格

試験器具

高周波パルス発電機

高周波パルス発電機

モデルデータ:

モデル:INS-40A

出力パルス振幅 (50Ω負荷):直角パルス 0~2KVmax±10%

オープン回路出力パルス振幅:直角パルス 0~4KVmax±10%

パルス幅: 50ns~1μs (50Ω負荷,50nsステップ)

上昇時間 ≤1ns

試験機器の電源容量:

AC単相: 220Vmax,16Amax

DC単相:最大220V,最大16Amax

試験方法

1試料のパルス出力端を直接出力同軸ケーブルで試料の電源入力端に接続する.

高周波騒音障害 INS 試験方法

2機械全体または接続基板と協力し,近場探査機 (電気フィールド,磁場) を使用して,サンプルシェルに直接パルスを0cmで適用します.

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高周波ノイズ障害 INS試験 高電圧の瞬間の干渉

高周波ノイズ障害 INS試験 高電圧の瞬間の干渉

詳細情報
ハイライト:

高電圧干渉 INS試験

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高周波騒音障害 INS試験

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瞬時の高電圧干渉 INS試験

製品説明

高周波騒音障害 INS試験
試験導入
高周波騒音障害 INS試験は,EMCフィールド試験に属します.その基本試験目的は,国際標準 IEC 61000-4-4 標準と同じである (電気速瞬パルスグループ試験)このテスト能力は主に日本と一部のアジア諸国に関連する顧客にサービスを提供しています

高周波騒音障害 INS試験

この試験は主に回路内のスイッチ装置,例えばリレーなどをシミュレートします.それらをオンまたはオフにすると,回路内の電流は急速に変化します.電路にインダクティブコンポーネントがある場合このタイプの干渉は,幅広いスペクトル (2GHzまで) を含んでおり,結合され,反射され,電源ケーブルと印刷回路板の配線を通してICによって共鳴し強化される電子製品の使用時の安定性を確保するために,それらの電子製品に対して反干渉試験 (EMS) を行う必要があります.高周波パルス発電機を使用する試験サンプルに複数のグループパルス信号が直接適用され,試料の反干渉能力は,試料の性能の変化に基づいて評価されます.試験後および試験中に.
試験用対象
中央制御パネルなどの電子機器
共同基準
NECA TR-28:長方波高周波ノイズ試験装置の試験指標

JEM TR-177: 電動機械および装置のための長方波高周波ノイズテスト装置の試験指標

JEC 0103_2005:低電圧制御回路試験規格

試験器具

高周波パルス発電機

高周波パルス発電機

モデルデータ:

モデル:INS-40A

出力パルス振幅 (50Ω負荷):直角パルス 0~2KVmax±10%

オープン回路出力パルス振幅:直角パルス 0~4KVmax±10%

パルス幅: 50ns~1μs (50Ω負荷,50nsステップ)

上昇時間 ≤1ns

試験機器の電源容量:

AC単相: 220Vmax,16Amax

DC単相:最大220V,最大16Amax

試験方法

1試料のパルス出力端を直接出力同軸ケーブルで試料の電源入力端に接続する.

高周波騒音障害 INS 試験方法

2機械全体または接続基板と協力し,近場探査機 (電気フィールド,磁場) を使用して,サンプルシェルに直接パルスを0cmで適用します.